Termografia aktywna jest dziedziną stosunkową nową. Polega w skrócie na stymulacji cieplnej badanego materiału i analizie jej wpływu na badaną powierzchnię. Pozwala to na wykrycie defektów w warstwie powierzchniowej. Istnieje kilka metod termografii aktywnej. Moduł TLIM wykorzystuje metodę termografii modulacyjnej (lock-in thermography) wykorzystującej teorię fal termicznych. Są one generowane przez modulowane prostokątnie źródło promieniowania, którym zazwyczaj jest lampa halogenowa. Za pomocą kamery termograficznej obserwuje się pole termiczne na powierzchni badanego materiału. Na podstawie znanej częstotliwości sygnału sygnału pobudzającego i zarejestrowanej reakcji układu wyznaczana jest amplituda odpowiedzi i kąt przesunięcia fazowego względem sygnału wymuszającego. Defekty powierzchniowe wpływają na rozchodzenie się fali cieplnej i są widoczne na obrazach termicznych.
Najwięcej informacji niesie termogram fazowy, ponieważ jest w dużym stopniu niewrażliwy na emisyjność materiału, niejednorodność fali cieplnej, lokalne różnice temperatury. Pozwala też na dwukrotnie większą penetrację materiału niż termogram amplitudowy.
Przykładowa próbka metalowa
z uszkodzoną przez korozję powłoką lakierniczą
|
Termogram amplitudowy badanej próbki
|
Termogram fazowy badanej próbki
|
Zakres głębokości jest regulowany za pomocą regulacji częstotliwości modulacji, w zależności od testowanego materiału lub jego własności cieplnych. Im niższa wybrana częstotliwość tym większa jest penetracja fal termicznych. Ta zależność pozwala na rozwiązywanie problemu głębokości wykrywania struktur ukrytych lub leżących poniżej warstw powierzchniowych.
Rozwarstwienie (delaminacja)
w tworzywie konstrukcyjnym zbrojonym włóknem węglowym.
|
|
Różne grubości materiału
w tworzywie konstrukcyjnym zbrojonym włóknem węglowym.
|
|
Badanie klejenia w elemecie s trukturze plastra miodu |
|
Niepełne (lewa część) i pełne (prawa część) |